Del nr. Pris Lager Fabrikant Beskrivelse
Del nr. Pris Lager Fabrikant Beskrivelse
PK007-005
Pr. enhed
13.00000
Lager: 14654
13.00000
Pr. enhed
Teledyne LeCroy SPRING TIP
TP1
Pr. enhed
22.99000
Lager: 13022
22.99000
Pr. enhed
Fluke Electronics TEST PROBES SLIM REACH FLT BLADE
30BLK
Pr. enhed
3.59000
Lager: 19268
3.59000
Pr. enhed
E-Z-Hook PROBE PIN TIP BLACK
CT4299-2
Pr. enhed
18.50000
Lager: 13572
18.50000
Pr. enhed
Cal Test Electronics FUSED PROBE, 500 MA WITH LOCKING
PP005-ST8
Pr. enhed
5.00000
Lager: 16841
5.00000
Pr. enhed
Teledyne LeCroy SPRING TIP .8MM
CT2711A-0
Pr. enhed
1.70000
Lager: 12723
1.70000
Pr. enhed
Cal Test Electronics REPLACEMENT TIP, THREADED, BLACK
P25-5223
Pr. enhed
2.57000
Lager: 12603
2.57000
Pr. enhed
Harwin 2.54MM CENTER TWO PART PROBE
PK007-004
Pr. enhed
8.00000
Lager: 17116
8.00000
Pr. enhed
Teledyne LeCroy RIGID TIP SER
P19-1121
Pr. enhed
2.81000
Lager: 11602
2.81000
Pr. enhed
Harwin 1.90MM CENTER TWO PART PROBE
PACC-PT005
Pr. enhed
30.00000
Lager: 12484
30.00000
Pr. enhed
Teledyne LeCroy PROBE TIPS BENT 4/PC
BU-26101-0
Pr. enhed
11.89000
Lager: 15157
11.89000
Pr. enhed
Mueller Electric Co. TEST PROD BLACK
CT3146
Pr. enhed
31.60000
Lager: 12551
31.60000
Pr. enhed
Cal Test Electronics FUSED MODULAR PROBES 10A/600V PA
CT2387-0
Pr. enhed
10.90000
Lager: 15515
10.90000
Pr. enhed
Cal Test Electronics SPRINGTIP MINIPROBE 2MM JACK BLK
R187S
Pr. enhed
1.70000
Lager: 12640
1.70000
Pr. enhed
Chip Shine / CSRF ICT TEST PROBE RECEPTACLE
BKP-J
Pr. enhed
59.00000
Lager: 11711
59.00000
Pr. enhed
Tegam PIN KIT ROUNDED TIP 4 PER PACK
TP40
Pr. enhed
49.99000
Lager: 11936
49.99000
Pr. enhed
Fluke Electronics PROBE PIN SET AUTOMOTIVE
PACC-CD007
Pr. enhed
150.00000
Lager: 11327
150.00000
Pr. enhed
Teledyne LeCroy PIVOT SOLDER GND 2/PC
CT3145-0
Pr. enhed
15.80000
Lager: 14090
15.80000
Pr. enhed
Cal Test Electronics FUSED MODULAR PROBE 10A/600V BLA
72-012
Pr. enhed
4.80000
Lager: 17241
4.80000
Pr. enhed
NTE Electronics, Inc. STANDARD PROBE BLACK
TOP050I05/200G
Pr. enhed
2.10000
Lager: 15253
2.10000
Pr. enhed
Chip Shine / CSRF ICT SPRING CONTACT TEST PROBE